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簡要描述：四探針方阻電阻率測定儀硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國標(biāo)設(shè)計制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.
更新時間：2025-02-10瀏覽次數(shù)：3951產(chǎn)品分類
Product classification詳細介紹
LST-331普通四探針方阻電阻率測試儀
一、四探針方阻電阻率測定儀描述：
采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語言版本.
二、四探針方阻電阻率測定儀參照標(biāo)準(zhǔn)：
硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國標(biāo)設(shè)計制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.
三.適用范圍：
適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析半導(dǎo)體材料質(zhì)量的工具；液晶顯示，自動測量和系數(shù)補償，并帶有溫度補償功能，自動轉(zhuǎn)換量程；采用芯片控制，恒流輸出，選配：PC軟件，保存和打印數(shù)據(jù)，生成報表
用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試等相關(guān)產(chǎn)品
四、.型號及參數(shù)
規(guī)格型model | LST-331 |
1.方塊電阻范圍 | 10^-5～2×10^5Ω/□ |
2.電阻率范圍 | 10^-6～2×10^6Ω-cm |
測試電流范圍 | 0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA |
4.電流精度 | ±0.1% |
5.電阻精度 | ≤0.3% |
6.顯示讀數(shù) | 液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率 |
7.測試方式 | 普通單電測量 |
8.工作電源 | 輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<30W |
9.誤差 | ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果） |
10.選購功能 | 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺；5.標(biāo)準(zhǔn)電阻. |
11.測試探頭 | 探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針 |
12.標(biāo)準(zhǔn)電阻（選購） | 規(guī)格：1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ |
五、標(biāo)準(zhǔn)配置外訂購明細：
序號 | 型號 | 品名 | 單位 | 數(shù)量 | 備注 |
1 | 340-CSX | 測試線 | 套 | 1 | |
2 | 09A | 標(biāo)準(zhǔn)電阻 | 個 | 1-5 | 選購規(guī)格和數(shù)量 |
3 | 06A | 四探針測試平臺 | 套 | 1 | 含探頭1個 |
4 | 06B | 四探針探頭 | 個 | 1 | 方型或直線型選購 |
5 | 340-TTZ | 鍍金彈簧銅針4根 | 組 | 1 | 4根為一組 |
6 | 340-WTZ | 彈簧鎢針4根 | 組 | 1 | 4根為一組 |
7 | 340-RJ | 分析軟件 | 套 | 1 | |
8 | PC | 電腦+打印機 | 套 | 1 | 依據(jù)客戶要求配置 |
9 | 300-JL | 檢測技術(shù)服務(wù) | 份 | 1 | 計量證書1份 |
10 | WDCGQ | 溫度傳感器 | 套 | 1 | 常溫-125度 |
331-YB | 延保服務(wù) | 年 | 1-3 |
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